產(chǎn)品分類
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產(chǎn)品型號
CGSR系列 -
廠商性質(zhì)
生產(chǎn)廠家 -
更新時間
2026-05-11 -
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產(chǎn)品描述
本設(shè)備利用反射干涉的原理進行無損測量，測量吸收或者透明襯底上薄膜的厚度以及折射率，同時提供樣品反射率，測量精度達到埃級的分辨率，測量迅速，操作簡單，界面友好，測量時間不到1秒。可應(yīng)用于光阻、半導(dǎo)體材料、高分子材料等薄膜層的厚度測量，在半導(dǎo)體、太陽能、液晶面板和光學(xué)行業(yè)以及科研院所和高校都得到了廣泛的應(yīng)用和極大的好評。
